半導體快速恒溫恒濕箱用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料進行高溫、低溫、或高低溫漸變的試驗，還可以對電子元器件及產(chǎn)品進行應力篩選試驗；適用于：電工、電子產(chǎn)品、元器件等。

半導體快速恒溫恒濕箱技術參數(shù)：

內(nèi)箱容積有：810升、100升、50升、 225升、416升、800升、1000升（還可以定制非標尺寸及升降溫速度）

溫變率：有5℃/min、3℃/min、8℃/min、9℃/min、10℃/min、15℃/min （有線性或非線性可選擇）

溫度范圍：-40℃～+150℃(溫變范圍-40~+20℃)

濕度范圍：20 %～98 % RH(分布范圍如下圖，滿足一般型）注：滿足做25℃，20%濕度的低濕條件

溫度波動度：±0.5℃

溫度偏差：±2.0℃

工作噪音：A聲級≤75dB(A)   (在環(huán)境溫度25℃，回聲少的隔音室內(nèi)測得；采用A計權，測試8個點的平均值；各測試點水平離噪音源1米、高度離地面1米)。

其他：增加三路溫度探頭，實時采集產(chǎn)品溫度

測試環(huán)境條件：機器周圍環(huán)境溫度維持在+5~+30℃之間，相對濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。

滿足標準：·GB/T10589-2008低溫試驗箱技術條件；·GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術條件；·GB2423.1-2008低溫試驗Aa , Ab；·MIL-STD810D方法502.2；·GB/T2423.4-2008（MIL-STD810）方法507.2程序3；·GJB 150.9-8溫熱試驗